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粒徑測量

更新日期:2026-02-09

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產品描述:  現存的所有粒徑測量方法,都假設了被測顆粒是圓球形的,測量原理在理想條件下對圓球形顆粒嚴格成立.測量儀器把顆粒的粒徑值轉換成某一個或一組中間量,測得中間量的數值后,儀器再把它(們)轉換成粒徑.

    我們現實能測量到的都是顆粒的等效粒徑。現存的所有粒徑測量方法,都假設了被測顆粒是圓球形的,測量原理在理想條件下對圓球形顆粒嚴格成立。測量儀器把顆粒的粒徑值轉換成某一個或一組中間量,測得中間量的數值后,儀器再把它(們)轉換成粒徑。實際上大多數情況下儀器無從知道顆粒的真實情況。在獲得必要的中間量數據后,儀器或者操作者在圓球形、條件理想的假設下,推算出被測顆粒的粒徑(有時是粒度分布)。

 

    對顆粒不規則,或者測試條件不理想的情況(在大多數實際測量中,要么顆粒不規則,要么測試條件不理想,要么二者兼而有之),最終給出的粒度結果與人們的直觀想象或理論粒徑會有一定的差距。在多數情況下,人們主要關心顆粒樣品的平均粒徑(D50)和均勻性,有時還關心最大粒(Dmax)和最小粒(Dmin),激光粒度儀能夠對顆粒進行粒徑測量并給出對應的粒度分布表。

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